その３ 特許分類を使って調べる
独立行政法人工業所有権情報・研修館（ＩＮＰＩＴ）より、無料で特許情報の検索ができる「Ｊ－ＰｌａｔＰａｔ（特許情報プラットフォーム）」が提供されています。
https://www.j-platpat.inpit.go.jp/
１９９９年から「特許電子図書館（ＩＰＤＬ）」として始まった無料の特許データベースは、２０１５年には「Ｊ－ＰｌａｔＰａｔ」として生まれ変わり、さらに、２０１９年５月には、大きく機能改善がなされて検索操作のインタフェースも大きく変更されました。
この講座では、特許調査の初歩の段階で行われる簡単な特許検索について、無料で手軽に使える「Ｊ－ＰｌａｔＰａｔ」の実際の操作事例を紹介しながら解説していきます。
３．特許分類を使って調べる
特許調査を行うときに、是非とも使いこなしたい検索ツールは「特許分類」です。特許情報は技術情報として活用されることもありますが、特許分類は技術分類でもあります。機械、電子、化学と多岐にわたる技術を分野ごとに分けて層別体系化し、各分類項目に分類コード記号を対応させています。
特許分類を特定し、その特許分類が付与された特許を集めることで、特定の技術内容の特許のみを網羅的に抽出することが可能になります。同一の技術内容であれば、技術説明に用いられているキーワード表現が異なっていても、ばらついていても、同一の特許分類が付与されているので網羅性が高まるのです。
（１）特許に付与される特許分類
図１３では、公開特許公報に記載されている特許分類を示しています。日本の特許には「ＩＰＣ（国際特許分類）」と「ＦＩ（ファイルインデックス）」と「Ｆターム（File Forming Term）」の３種類の特許分類が付与されています。
図１３ 公開特許公報に記載される特許分類
３種類の特許分類の関係性を図１４に示しました。
世界各国で共通して使用される「ＩＰＣ（国内特許分類）」を、日本独自に細分化させた分類が「ＦＩ（ファイルインデックス）」になります。さらに、特定の範囲のＦＩが付与された特許に対して複数の観点で構成された分類を付与しているものが「Ｆターム（File Forming Term）」になります。
日本国内の特許を調査するときには、「ＦＩ」と「Ｆターム」を主体に使用すると効率よく網羅性を高めた特許検索が可能になります。海外の特許には「ＦＩ」と「Ｆターム」は付与されていないので、外国特許調査の際には、「ＩＰＣ（国内特許分類）」と、欧米の特許に付与されている「ＣＰＣ（共通特許分類）」を使って調査を実施します。
図14 ＩＰＣ、ＦＩおよびＦタームの関係
（２）特許分類の階層構造
特許分類は「分野→大分類→中分類→小分類」のように階層化された構造となっています。「ＡからＨ」までの「分野」に相当する８つの「セクション」から始まり、各セクションでは「大分類」に相当する「クラス」に展開され、さらに特定のクラスの中を「中分類」に相当する「サブクラス」に細分化しています。そして、各サブクラスを「小分類」に相当する「メイングループ」へと細分化しています。
図１５には、紙ばさみクリップのＦＩ分類である「Ｂ４２Ｆ１／００」について、「セクション→クラス→サブクラス→メイングループ」の階層構造と、分類項目が細分化される様子を示しました。
図１５ ＦＩの階層構造
そして特許分類の分類コード表の中では、「・（中黒ドット）」とその数により階層関係を表すようになっています。図１６にはダブルクリップのＦＩ分類コードである「Ｂ４２Ｆ１／０２Ｂ」とその周辺の分類コードを示しました。
図１６ ドットを使った階層の表現
ドットの数が同じである「Ｂ：ダブルクリップ」「Ｄ：板状クリップ」「Ｆ：針金状クリップ」は同一の階層になりますが、ドットの数が異なる「・・Ｃ」は「・Ｂ」の下位の階層となります。したがって、「Ｃ」の「他の機能が付加されたクリップ」は、あくまでも「他の機能が付加されたダブルクリップ」であって、「他の機能が付加された針金状クリップ」は含まれていないことになります。
このような階層構造を有することで、上位の階層の分類を指定すれば、特定の技術分野全般を広く検索することが可能になり、一方で、細分化された細かな技術分野を指定すれば細分化されたテーマに限定された濃密な特許を検索することが可能になります。
（３）特許・実用新案分類照会（ＰＭＧＳ）を活用する
前出の図１３に示すとおり、公開特許公報に掲載される特許分類は分類コード記号のみであり、その分類コードの特許分類の内容については記載がありません。分類コード記号の内容を確認する際には「特許・実用新案分類照会（ＰＭＧＳ）」を参照します。
図１７ 下位に展開表示される階層
図１７では、具体的な分類コードの照会手順について説明しています。紙ばさみクリップのＦＩ分類である「Ｂ４２Ｆ１／００」の分類内容の確認手順です。
プルダウンメニューから「特許・実用新案分類照会（ＰＭＧＳ）」を選択すると、図の左下のように、「ＡからＨ」までの「セクション」が表示されます。次に、参照したい「セクション：Ｂ」の左側の「＋マーク」をクリックすると、図の右側のように「クラス：Ｂ４２」が展開表示され、さらに、「クラス：Ｂ４２」の左側の「＋マーク」をクリックすると、「サブクラス：Ｂ４２Ｆ」が表示されます。
そして、「サブクラス：Ｂ４２Ｆ」の左側の「＋マーク」をクリックすると、図１８の「メイングループ：Ｂ４２Ｆ１／００」が表示され、「メイングループ：Ｂ４２Ｆ１／００」の左側の「＋マーク」をクリックすると、一番下の階層（最下層）となる、「サブグループ：Ｂ４２Ｆ１／０２Ｂ」の内容が展開表示されます。「Ｂ４２Ｆ１／０２Ｂ」は「ダブルクリップや山形クリップ」に関する特許分類であることが分かりました。
図１８ Ｂ４２Ｆ１／０２の照会画面
これまで説明した「Ｂ４２Ｆ１／０２Ｂ」の分類内容は「ダブルクリップ；山形クリップ」と記載され、このＦＩの内容を理解することは容易ですが、分類内容の説明の中には、その説明文を読んでも内容の理解が難しいケースもあると思います。そんなときには、説明文の右にある「ハンドブック」のアイコンをクリックしてみてください。図１９には、ハンドブックをクリックして表示される画面を示しました。
図１９ ＦＩハンドブックの表示画面
図１９の表示画面を見ると、説明に加えて、「補足説明」や「関連分野」について表示されています。この「補足説明」や「関連分野」の記載がされていると、そのＦＩ分類の内容の理解に役立ちます。今回のダブルクリップのＦＩ分類である「Ｂ４２Ｆ１／０２Ｂ」の下位階層には「Ｂ４２Ｆ１／０２Ｃ：他の機能を付加したもの」のＦＩが存在しますが、補足説明の欄には「他の機能」の例示として、「フック付、押しピン付、見出し付」といった記載がなされており、「他の機能」の内容を理解するのに役立ちます。
次に、図２０と図２１では、Ｆタームの内容を確認する手順について説明しています。
図２０の左側のように「Ｆターム」のラジオボタンを選択し、「２Ｃ０１７」のテーマコードを入力して照会ボタンをクリックすると、「２Ｃ０１７」のテーマコードの中で細分化されている観点項目が表示されます。さらに、観点項目の右端の「開く＋」をクリックすると、その観点項目の細分化された具体的な項目の内容が表示されます。
そして、この表示画面の右上にある「リスト印刷」のアイコンをクリックすると、図２１のようなリスト印刷画面が表示されます。この画面は従来より「Ｆタームコード表」と呼ばれていたものですので、以前よりＦタームに親しまれている方には、こちらの表示画面の方が馴染み深いと思います。
図２０ ２Ｃ０１７ＢＡ０１の照会画面
さらに、この表示画面の右上にある「リスト印刷」のアイコンをクリックすると、図２１のようなリスト印刷画面が表示されます。この画面は従来より「Ｆタームコード表」と呼ばれていたものですので、以前よりＦタームに親しまれている方には、こちらの表示画面の方が馴染み深いと思います。
図２１ Ｆタームのリスト印刷表示画面
図２１のＦタームコード表では、縦方向には観点の項目を展開し、横方向には各観点の具体的な内容を「・（中黒ドット）」の数による階層関係を表しながら細分化しています。具体的には、「ＢＡ：クリップの校正、種類」の観点の細分化された項目の中に、「ＢＡ０１：ダブルクリップ、山型クリップ」というＦターム分類が存在しています。
以上の説明では、特許公報に記載されている特許分類コードの内容を確認する手順について説明しましたが、「特許・実用新案分類照会（ＰＭＧＳ）」の中には、キーワード検索により、特許検索で使えそうな特許分類を特定することができる機能も備えています。
図２２ ＰＭＧＳのキーワード検索
図２２には「キーワード検索」のタブの表示画面で、ＦＩ分類の説明文中に「ダブルクリップ」というキーワードが含まれているものを検索しています。そうすると、「Ｂ４２Ｆ１／０２Ｂ：ダブルクリップ」のＦＩ分類がヒットし、ダブルクリップに関するＦＩを直接的に特定することができます。
（４）特許分類を指定して検索を実施する
それでは、ダブルクリップに関するＦＩとＦタームを指定して実際の検索を行ってみたいと思います。図２３では、「特許・実用新案検索」でＦＩを入力する画面と、検索結果が表示された画面を示しています。
図２３ ＦＩ検索の検索画面
入力画面のプルダウンにより表示される検索項目から「ＦＩ」を選択し、入力欄に「Ｂ４２Ｆ１／０２＠Ｂ」と入力して検索ボタンをクリックします。そうすると、検索結果表示の画面のように、国内文献のヒット件数とともにヒットした特許の一覧が表示されます。
ここで、ＦＩ分類コードの入力形式に注意が必要です。前出の図１３の公開特許公報のＦＩの表記は「Ｂ４２Ｆ１／０２Ｂ」と記載されていますが、実際に検索を行う際に入力するＦＩ分類コードは「Ｂ４２Ｆ１／０２＠Ｂ」となっており、コード右端の「Ｂ」の前に「＠」が入っています。この「＠」が入っていないとエラーになってしまいますので、ＦＩ分類を入力する際には注意が必要です。
次の図２４は「特許・実用新案検索」で、Ｆタームを入力する画面と、検索結果が表示された画面です。
図２４ Ｆターム検索の検索画面
入力画面のプルダウンにより表示される検索項目から「Ｆターム」を選択し、入力欄に「２Ｃ０１７ＢＡ０１」と入力して検索ボタンをクリックします。そうすると、検索結果表示の画面のように、国内文献のヒット件数とともにヒットした特許の一覧が表示されます。
ＦＩ検索のヒット件数も、Ｆターム検索のヒット件数も１，０００件を超えており、スクリーニングを実施するには、ちょっと件数が多い印象です。クリアランス調査（侵害予防調査）を目的とするのであれば、検索オプション機能で出願日が２０年以内の特許に限定するとか、先行技術調査であれば、発明のポイントとなる内容のキーワードを掛け合わせて限定するとか、スクリーニングしやすい件数まで絞り込み検索するとよいかと思います。
今回の特許検索講座の解説は以上です。次回は「その４ 特許分類とキーワードを掛け合わせて調べる」について解説していきます。
以上
